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上海华力申请氧化层的平坦化方法专利,能在对氧化层的CMP最后阶段采用不产生刮伤的小粒径研磨粒子且对研磨终点进行很好控制

信息来源:eooaoo.com   时间: 2025-11-25  浏览次数:54


本文源自:市场资讯

国家知识产权局信息显示,上海华力集成电路制造有限公司申请一项名为“氧化层的平坦化方法”的专利,公开号CN 120998777 A,申请日期为2025年7月。专利摘要显示,本发明公开了一种氧化层的平坦化方法,包括步骤:在底层结构上依次形成衬垫氧化层和第一多晶硅层。依次对第一多晶硅层、衬垫氧化层和底层结构进行图形化刻蚀形成沟槽。在沟槽中填充第一氧化层,第一氧化层还延伸到沟槽外。进行CMP以对第一氧化层进行平坦化,CMP至少在最后阶段采用第一种粒径的研磨粒子,第一多晶硅层作为最后阶段的停止层,第一种粒径减少到保证不对第一氧化层产生刮伤。本发明能在对氧化层的CMP的最后阶段采用不产生刮伤的小粒径的研磨粒子,同时还能对研磨终点进行很好的控制;还能保证研磨速率以及消除台阶差的能力。

天眼查资料显示,上海华力集成电路制造有限公司,成立于2016年,位于上海市,是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本2960000万人民币。通过天眼查大数据分析,上海华力集成电路制造有限公司参与招投标项目2091次,专利信息2614条,此外企业还拥有行政许可396个。

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